产品详情

• 　XT-50攻击试样投影仪

  一、产品概述：

  XT-50型攻击试样投影仪是我公司凭据宽大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比攻击试验要领》中对攻击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影要领将被测的攻击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的攻击试样V型和U型缺口标准样板图比照，以确定被检测的试样缺口是否及格。其优点是操作简便，比照直观。

  二、事情原理：

  本投影仪光源发出的光线经聚光久魅照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。本仪器为简单投射照明，光源通过一系列光学元件投射在事情台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样安排的方位一致。

  三、技术参数： 
  

  技术名称	技术参数
  投影屏直径（mm）	180
  方事情台尺寸（mm）	110×125
  圆事情台直径（mm）	90
  事情台玻璃直径（mm）	70
  事情台转动规模	0~360°
  仪器放大倍率	50X
  物镜放大倍率	2.5X
  投影物镜放大倍率	20X
  光源（卤钨灯）	12V/100W
  外形尺寸（长×宽×高）（mm）	515×224×603

  
  

  
  

  
  

  

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