XT-50攻击试样投影仪
一、产品概述：
XT-50型攻击试样投影仪是我公司凭据宽大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比攻击试验要领》中对攻击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影要领将被测的攻击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的攻击试样V型和U型缺口标准样板图比照，以确定被检测的试样缺口是否及格。其优点是操作简便，比照直观。
二、事情原理：
本投影仪光源发出的光线经聚光久魅照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。本仪器为简单投射照明，光源通过一系列光学元件投射在事情台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样安排的方位一致。
三、技术参数：
技术名称 | 技术参数 |
投影屏直径（mm） | 180 |
方事情台尺寸（mm） | 110×125 |
圆事情台直径（mm） | 90 |
事情台玻璃直径（mm） | 70 |
事情台转动规模 | 0~360° |
仪器放大倍率 | 50X |
物镜放大倍率 | 2.5X |
投影物镜放大倍率 | 20X |
光源（卤钨灯） | 12V/100W |
外形尺寸（长×宽×高）（mm） | 515×224×603 |
XT-50攻击试样投影仪
